XLE-1型 大平臺金相檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路，晶片的質量檢測而設計開發制造的。金相檢測顯微鏡的特點：1.放大倍數：40倍至400倍；2.超大型載物臺
技術參數
1. 機械筒長 160mm
2.
物鏡 | 數值孔徑 | 有效工作距離（mm） | 介質 |
4× | 0.10 | 17.912 | 幹 |
10× | 0.25 | 6.544 | 幹 |
20× | 0.40 | 1.05 | 幹 |
40× | 0.65 | 0.736 | 幹 |
3.目鏡 10× 視場直徑(mm) --18
4.放大倍數 40×--400×
5.載物臺面積 350mmX255mm
縱向移動范圍---200mm
橫向移動范圍---200mm
6.粗微動調焦范圍 25mm,微調轉動一圈樣品升降0.2mm,格值0.002mm
7.光源 鎢鹵素燈6V20W。內藏式連續調光電源
8.物鏡轉換器 四孔式 (三孔式)
9.目鏡筒 三目鏡 (雙目鏡)
廠傢優勢
1 本公司是一傢集電子衡器.實驗機器,計量、光學、力學機器及紡織器材為一體的生產銷售型企業。
2多年來，公司秉承與"客戶共贏，打造最佳性價比"的行銷理念,籍憑卓越的品質，優越的服務，"互動合作，靈活高效，精益求精"的企業經營理念，目前公司產品已遍及各行各業，與廣大客戶建立瞭長期的合作夥伴關系。
3本廠生產的產品都通過正規質檢，工序嚴格品控，均采用優質原材料。
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