SP60 | 測量光學系統 | d/8°(漫射照明/8°角測量);DRS光譜感應器;固定測量孔徑:8mm測量/12mm照明 |
儀器臺間差 | CIE L*a*b*:0.4△E*ab以內,測量12塊BCRAⅡ系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.60△E*ab測量任何色板(包含鏡面反射) CMC相等值:0.3△E*CMC以內,測量12塊BCRA系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.5△E*CMC測量任何色板(包含鏡面反射) |
短期重復性 | 0.10△E*ab,測量白色標準板(標準誤差數) |
SP62 | 測量光學系統 | d/8°(漫射照明/8°角測量);DRS光譜感應器; 可選擇的測量孔徑:4mm測量/6.5mm照明;8mm測量/13mm照明;14mm測量/20mm照明 |
儀器臺間差 | CIE L*a*b*:0.20△E*ab以內,測量12塊BCRAⅡ系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.40△E*ab測量任何色板(包含鏡面反射) CMC相等值:0.15△E*CMC以內,測量12塊BCRA系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.3△E*CMC測量任何色板(包含鏡面反射) |
短期重復性 | 0.05△E*ab,測量白色標準板(標準誤差數) |
SP64 | 測量光學系統 | d/8°(漫射照明/8°角測量);DRS光譜感應器;可選擇的測量孔徑:4mm測量/6.5mm照明; 8mm測量/13mm照明(4mm和8mm測量目標窗內置可轉);14mm測量/20mm照明 |
儀器臺間差 | CIE L*a*b*:0.20△E*ab以內,測量12塊BCRAⅡ系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.40△E*ab測量任何色板(包含鏡面反射) CMC相等值:0.15△E*CMC以內,測量12塊BCRA系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.3△E*CMC測量任何色板(包含鏡面反射) |
短期重復性 | 0.05△E*ab,測量白色標準板(標準誤差數) |