15J測量顯微鏡 | |||||||||||||||||||||||
測量顯微鏡是光學計量機器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，用途如下： 1．直角坐標中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。 2．轉動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規、鑽孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 3．用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。
X軸移動測量范圍 50 mm Y軸移動測量范圍 13 mm 測微器分度值 0.01mm 測量臺轉動范圍 不限 測量臺刻度盤分度范圍 0°?360° 測量臺刻度盤之分度值 1° 測量臺刻度盤遊標讀數示值 6’ 機器示值誤差：±（5+L/15）μm 機器示值誤差：包括測量誤差與機器系統誤差 註：測量地點溫度變化（20±3）℃ L-被測件長度（mm） 測量臺與物鏡間之最大距離 80mm 測量工作臺直徑 120mm 機器外形尺寸 262×220×325mm | |||||||||||||||||||||||
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