應用領域：聚合體: PVA, PET, PP, PR ...
電解質:
半導體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
測量范圍：0.02um~ 35um
測量速度: 1~2 sec./site
特點：測量迅速，操作簡單
非接觸式，非破壞方式
優秀的重復性和再現性
用戶易操作界面
每個影像打印和數據保存功能
可測量多達3層
可背面反射
新手教學
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