用於復合材料檢測的黃金眼剪切幹涉測量系統（激光散斑錯位幹涉測量系統）
黃金眼剪切幹涉無損檢測系統是一種采用非接觸式測量的無損檢測系統，主要用於檢測復合材料內部結構缺陷的非均勻性，如分層、脫粘、夾雜等。顯示出的非均勻性可用鼠標進行標記，從而確定所顯現缺陷的橫向大小和在測量視場中的位置
該測量技術用激光照射材料表面，將反射回的波面橫向平移一定位移後同未平移的波面進行自我幹涉，形成幹涉條紋。當被測材料由於開裂，剝離，內部包含異物，凹陷，受擠壓，或是多層材料出現脫層等現象，則材料表面的幹涉模式會出現局部不連續。
該系統由VEW與不來梅應用光學研究所（BIAS）合作開發
與采用電機驅動反射鏡的其他常規剪切幹涉系統不同，黃金眼系統首次使用瞭電控的空間光調制器
（SLM）來實現剪切和相移。（已申請專利）測量場可以進行動態或溫度加載。
動態加載通過壓電傳感器（Piezo）來實現。壓電傳感器經真空緊密貼合在材料表面，由軟件控制產生高能量的振動。其振動頻率可變，從而可與材料的機械性能相匹配。溫度加載則可通過熱光源的照射來實現。
1.剪切幹涉測量頭：
尺寸：250*200*80mm
可變測量范圍：6*8cm~30*40cm
振動發生器：壓電傳感器
頻率：100Hz~100KHz
Piezo振幅：±1μm
2.A型激光模塊：
尺寸：140*75*60mm
波長：806mm
功率（max）：1.8~6w
3.控制模塊：
尺寸：400*220*220mm
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