◆ 波長范圍：380-780nm（標準），200-1100nm（特殊選項）
◆ 波長精度：±0.5nm
◆ 色坐標準確度：±0.0015 ， ±0.0005(標準A光源下)
◆ 積分時間：0.1mS – 20S
◆ 雜散光：＜ 0.015%（600nm），＜0.03%（435nm）
◆ 光度線性：±0.5%
◆ 相關色溫測量范圍：1000~100000k
◆ 相關色溫準確度：±0.3%(標準A光源下)
◆ 顯色指數測量誤差：±(0.3%±0.3)
◆ 快速電掃描,無機械磨損,穩定性好
◆ 以軟件為核心,便於升級換代,可滿足不同用戶的需求
◆ 快捷方便的USB通訊接口,適用於各種PC電腦及WINDOWS操作系統
◆ 中英文測試報告規范,合理,便於國際交流
原理簡述:
雜散光是所有光學機器系統中固有的一種有害的非檢測光，對機器的測量精度影響很大。對於光譜檢測機器系統而言，雜散光的影響更加不可忽略。在光譜機中，雜散光是形成系統背景光譜的主要原因，若背景光譜較強，則可能影響到微弱光信號的檢測，大大地降低系統的信噪比，同時會直接影響測量信號的準確度及單色性。
目前市場上大多數光譜機制造商所提供的快速CCD光譜機分光都采用平面光柵與多塊聚光鏡的組合，會產生極大的雜散光，對測量結果影響很大。創惠公司鑒於多年來，在高精度光譜機領域研究和開發中積累的豐富經驗研發的新一代CMS-2S快速光譜分析機，采用世界先進的全息凹面衍射光柵和東芝高性能的線性CCD陳列探測器。優化瞭高性能CCD與全息凹面平場衍射光柵的匹配設計，通過求解關於不同像差項的非線性方程組來達到消除具體像差、補償像面的目的，隻需一個光學元件，很好的解決瞭大多數廠傢對快速光譜機測試過程中產生極大雜散光，使光學匹配更完美，系統所獲得的光譜更純，線性更好。
雜散光的控制遠遠達不到用全息凹面平場衍射光柵隻需一個光學元件的超低效果。除瞭低雜散光，采用全息凹面平場衍射光柵對提高其熱穩定性也有很好的幫助。在很寬的溫度范圍內測量結果幾乎沒有波長漂移, 並且光譜譜峰有良好的保持效果。
CMS-2S快速光譜分析機采用瞭目前國際先進的消光材料對光譜機內部進行特殊消光處理，使整個系統的雜散光控制在0.015%以下，對提高色坐標的準確度起到瞭最關鍵的作用。
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