三維相移電子散斑幹涉儀， 型號:m3990081， 庫號：M399081，

三維相移電子散斑幹涉儀， 型號:m3990081， 庫號：M399081，

三維相移電子散斑幹涉儀， 型號:m3990081， 庫號：M399081，

三維相移電子散斑幹涉儀， 型號:m3990081， 庫號：M399081，

相移電子散斑幹涉（ESPI）技術是繼光彈性和全息幹涉等光測力學方法之後發展起來的一種實驗力學新方法。它直接依靠激光幹涉和計算機圖像采集處理系統獲得幹涉條紋。這種方法在工程上已得到瞭較廣泛的運用，可用於解決工程中的強度和剛度問題，並可用於殘餘應力測量。
三維相移電子散斑幹涉儀可滿足物體表面面內位移和離面位移同時測量的要求。該儀器采用高性能半導體激光器作光源，並配以電子散斑條紋實時顯示和位相處理軟件，使得操作方便、測量結果兼容性強（便於通用數據處理軟件接口）。



主要技術指標：
◆ 光源：半導體泵浦固體激光器（綠光）,輸出功率大於20mw, 波長532nm 
◆ 相機：1280×1024 USB2.0數字攝像頭
◆ 鏡頭：25mm定焦鏡頭（標配），可選配其它C接口鏡頭
◆ 工作距離：400～800mm
◆ 相移器：10nm
◆ 演示試件： 圓盤受均佈載荷，三點彎曲梁
◆ 最大范圍：Ф250mm
◆ 尺寸：520cm×370cm×250cm
◆ 重量：22kg

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