DLM-361鍍鋁膜厚度測量儀
我公司開發的DLM-361鍍鋁膜厚度測量儀是針對包裝用PET、CPP、鍍鋁紙等鍍鋁層厚度測量的儀器，該儀器鄙棄瞭落後的電阻測量法，采用光密度測量的方法，光密測量和厚度測量可以任意切換，測量準確、直觀，使用方便。QQ：673081681 TEL：029-33239858
DLM-361鍍鋁膜厚度測量儀技術指標：
1. 測量范圍:（光密測量和厚度測量可以任意切換）
光密度：D=0.00～6.0
鍍鋁厚度：0-899埃
2. 光孔大小: Φ2mm
3. 讀數穩定性: ±0.02（光密度），±1埃（厚度）
4. 不精確度: ±0.02D（光密度），±1埃（厚度）
5.介質厚度：0-10mm
6. 顯示方式:
三位數字顯示
7. 采樣時間: 0.05秒
8. 工作環境:
溫度0-40℃
相對濕度≤85%
9. 電源:
50-60HZ 220±10%
10. 功率: 約25W
11.尺寸: 300×270×140mm（長×寬×高）
12.參考標準：ANSI/NAMP IT2.19
生產廠商：前景計算機科技工程公司
地址：陜西省咸陽市文匯西路13號
電話：029-33239858 33167780（FAX）
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