光譜型輻射測量機.可用於進行太陽輻射照度、光化通量、光解速率和太陽光譜的測量。根據所采用的光學探頭和光學檢測器的不同，其具體的測量參數、時間分辨率、準確度和精密度也存在一定差別。目前，可提供三種類型的光譜型輻射測量機。

（1）基於光電二極管陣列（PDA）的測量機，其測量的光譜范圍為285 – 715 nm（512象素）或220 – 1050 nm（1024象素），光譜分辨率（FWHM）為2.1 – 3 nm，時間分辨率在2秒左右。根據需要，可選配用於光化通量、太陽輻射照度、直射太陽輻射測量的光學探頭。（圖1）

（2）基於電感耦合器件（CCD）的測量機，采用象素為532*64的CCD檢測器，測量的光譜范圍在285 – 700 nm，光譜分辨率（FWHM）小於1.8 nm，其測量時間分辨率較之PDA型的更快，可達到20毫秒。根據需要，可選配用於光化通量、太陽輻射照度、直射太陽輻射、以及天空輻射測量的光學探頭。（圖2）

（3）近紅外測量機，采用InGaAs檢測器，光譜測量范圍在900 – 1700 nm，最高可達到2500 nm，光譜分辨率（FWHM）約為6 – 18 nm。根據需要，可選配用於太陽輻射照度、直射太陽輻射、以及天空輻射測量的光學探頭。

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