EXF8000S貴金屬檢測機
硬件獨特性:集成計算機，無需再外接電腦，計算機采用高集成工控主板，多點手觸屏，操作流暢便捷；加裝自動防輻射泄漏裝置，主動性的保證使用人員安全；可輕松解決貴金屬行業無損分析的要求，為貴金屬行業性價比最好的光譜機之一。
軟件優越性：菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算系統；計算報告的打印格式多樣化，完全滿足客戶各種形式的打印要求。
激發源：Mo靶的X光管風冷(無輻射）
探測器：固定式半導體封氣正比計數器高壓裝置：0～50KV(國產) 0～1mA
其它規格：電壓：交流220V/50Hz
最大功率:120W
最大處尺寸:450mm*650mm*350mm
重量:32kg
最大功率:120W
最大處尺寸:450mm*650mm*350mm
重量:32kg
技術指標：分析范圍：1%～99.99%
測量時間：自適應
測量精度：± 1000ppm～0.2%
測試環境：常溫常態
分析元素：檢測物質涵蓋貴金屬行業全部金屬及補口,包括黃金Au（包括K金），鉑金Pt，白銀Ag，鈀金Pd，銅Cu，鋅Zn，鎳Ni等等。X射線源：MO靶X射線光管
高壓器：0～50KV(國產) 0～1mA
操作系統:Windows2000/Me/XP鍍層測量：鍍層厚度范圍<30μm
最大測量層數：5層
測量精度：0.03μm
測量時間：自適應
測量精度：± 1000ppm～0.2%
測試環境：常溫常態
分析元素：檢測物質涵蓋貴金屬行業全部金屬及補口,包括黃金Au（包括K金），鉑金Pt，白銀Ag，鈀金Pd，銅Cu，鋅Zn，鎳Ni等等。X射線源：MO靶X射線光管
高壓器：0～50KV(國產) 0～1mA
操作系統:Windows2000/Me/XP鍍層測量：鍍層厚度范圍<30μm
最大測量層數：5層
測量精度：0.03μm
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