商品代碼:1597962

  • 現在位置: 首頁 » 貨源 » 儀器、儀表 » 光學儀器 » 干涉儀 »
    F-P掃描幹涉儀FPSI-532-P75激光模式(縱模)分析*激光光譜分析
    商品代碼: 1597962
    (可點擊以下立即詢價直接線上諮詢,或來電提供此商品代碼諮詢)
    即日起提供日本樂天代購服務-詳見 Rakuten-suki日本樂天代購,謝謝。
    商品詳細說明

    技術參數:

    幹涉儀規格:75GHz  (平行平板)                

    適用波長:532nm

    精細常數:> 50

    掃描周期:5 - 100Hz

    掃描波形:鋸齒波/三角波(0 - 350V) 

    應用領域:

    分析、監測在研的窄線寬(單頻)Nd:YAG激光縱模動態變化 

     

    FP SCANNING INTERFEROMETER

    SPECIFICATIONS

    Wavelengths             532nm

    Free Spectral Range   75 GHz(parallel plates)

    Finesses                   50(for parallel plates mode)     

    Scanning Period         0.2 - 0.01Sec

    Scanning waveforms  Saw wave / Triangle

    APPLICATIONS

    For Nd:YAG(with KTP) lasers. 

     

    產品特色:

    1、幹涉儀接收器一體化,免維護;

    2、掃描波形可選,增加瞭實驗對比參考內容;

     

    儀器主要清單:

    1、光學頭;2、驅動器;3、其他附件;

     

    產品特色:

    1、幹涉儀接收器一體化,免維護;

    2、掃描波形可選,增加瞭實驗對比參考內容;

     

    產品新增特色:驅動器新增手動步進控制。幹涉儀腔長可以按照nm級進行步進調節。



    新手教學
    F-P掃描幹涉儀FPSI-532-P75激光模式(縱模)分析*激光光譜分析_干涉儀_光學儀器_儀器、儀表_貨源_批發一路發
    批發市場僅提供代購諮詢服務,商品內容為廠商自行維護,若有發現不實、不合適或不正確內容,再請告知我們,查實即會請廠商修改或立即下架,謝謝。
    相關商品
    line 線上客服  ID@tsq1489i
    線上客服