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平面平晶產品特點*平面平晶是以光波幹涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的幹涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用於檢定量塊的研合性和平面度以機器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用於檢定高精度的平面零件,例如,平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用於計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
技術參數: