鏡頭式原子力顯微鏡
Nanosurf LensAFM NSF-Ls型
光學顯微鏡與原子力顯微鏡的完美結合
A Perfect Combination of Optical Mircoscope and AFM
--達到納米級分辨率
--獲取三維形貌結構數據
--觸及材料的特性
--Visualize your samples with nanometer resolution
--Obtain 3-dimensional surface structure data
--Access material property information
一、應用
1.納米級三維成像裝置
2.最大掃描范圍(XY):110um
3.最大掃描范圍(Z):22um
4.分辨率(XY/Z):1.7/0.34nm
5.內置8倍45或60mm等焦距物鏡
6.可配置於任何已有顯微鏡上
二、與標準光學顯微鏡配合使用的強有力裝置
1.可以安裝在正置或倒置光學顯微鏡或光學輪廓機上
2.裝有8倍物鏡,能清晰觀察您的樣品盒AFM探針
3.利用光學顯微鏡的取景器和操縱器來輕松定位
4.集成樣品自動趨近系統,您隻要將樣品放到光焦點,下面就交給鏡頭式AFM
5.不受光學限制的影響,瞬間得到高分辨率圖像,同時可以測量大范圍樣品表層的屬性(所有標準AFM工作模式都可以通過easyScan 2的控制系統操作)
6.簡易直觀,Nanosurf著名的簡易操作方法讓您在短時間內學會操作
鏡頭式AFM適配器上裝有一個簡單的安裝裝置,讓您可以輕松地安裝或卸下掃描頭和進項探針的更換。
在一個硬殼金屬表面進行探測,通過光學顯微鏡觀察,(上圖,100倍NA0.9物流頭)並用鏡頭式AFM分析(下圖),AFM圖片上顯示的數字單位是微米。
LensAFM掃描頭參數
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