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上海精科-上海物光
WG-15J測量顯微鏡
應用范圍：測量潛望鏡是光學計量機器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍及廣。
性能指標：
光學系統規格
物鏡 | 目鏡 | 顯微鏡 | 工作 距離 | 視場 直徑 | ||
放大倍數 | 焦距 | 放大倍數 | 焦距 | 放大倍數 | ||
2.5×/0.08 | 43.40 | 10× | 25.00 | 25× | 58.84 | 5.6 |
10×/0.25 | 17.13 | 100× | 7.81 | 1.6 | ||
測量工作臺讀數裝置主要規格
X軸遇到測量范圍50nm
Y軸遇到測量范圍13nm
測量器分度值：0.01nm
測量臺轉動范圍不限：NO limit
測量臺刻度盤分度范圍：0°～360°
測量臺刻度盤之分度值：1°
測量臺刻度盤遊標讀數示值：6’
測量精度：
機器示值誤差：± （4+L/15）μ m
機器示值誤差：包括測量誤差和系統誤差
註：測量地點溫度變化20℃ ±3℃，L--被測件長度
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