SGW X-4B顯微熔點儀
應用范圍：應用范圍：測定物質的熔點。用於化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
溫馨提示：您沒有選擇顏色/尺寸
數量：
【產品詳情】
性能指標
熔點測量范圍：室溫至320℃
最小讀數：0.1℃
測量重復性：±1℃（在<200℃時）
±2℃（在200～300℃時）
配雙目體視顯微鏡
光學放大倍數：40x-100x連續可調
應用范圍：應用范圍：測定物質的熔點。用於化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
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熔點測量范圍：室溫至320℃
最小讀數：0.1℃
測量重復性：±1℃（在<200℃時）
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光學放大倍數：40x-100x連續可調
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