商品代碼:1297420

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    F-P掃描幹涉儀FPSI-632.8-P75激光模式(縱模)分析*激光光譜分析
    商品代碼: 1297420
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    商品詳細說明

    技術參數:

    幹涉儀規格:75GHz  (平行平板)                

    適用波長:632.8nm(氦氖激光器)

    精細常數:> 50

    掃描周期:5 - 100Hz

    掃描波形:鋸齒波/三角波(0 - 350V) 

    應用領域:

    研究各種He-Ne激光的縱模動態變化 

     

    FP SCANNING INTERFEROMETER

    SPECIFICATIONS

    Wavelengths             632.8nm

    Free Spectral Range   75GHz (parallel plates)

    Finesses                   50(for parallel plates mode)     

    Scanning Period         0.2 - 0.01Sec

    Scanning waveforms  Saw wave / Triangle

    APPLICATIONS

    For Displaying the longitudinal modes of a He-Ne laser.

     

    產品特色:

    1、幹涉儀接收器一體化,免維護;

    2、掃描波形可選,增加瞭實驗對比參考內容;

     

    儀器主要清單:

    1、光學頭;2、驅動器;3、其他附件;

     

    產品特色:

    1、幹涉儀接收器一體化,免維護;

    2、掃描波形可選,增加瞭實驗對比參考內容;

    產品新增特色:驅動器新增手動步進控制。幹涉儀腔長可以按照nm級進行步進調節。



    新手教學
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