Diametior AS非球面斐索幹涉儀針對非球面、球面、平面提供快速的、高分辨率、非接觸式
測量。Diametior AS采用亞乃奎斯特采樣技術（Sub-Nyquist Sampling,SNS）,結合傳統的
相移技術，能夠分析的條紋密度達到5 fringes/CCD pixel，能夠實現對傾斜較大的波前進行
直接測量。除瞭SNS技術外，另外獨創瞭一種的CGR™技術，這種技術稱為計算產生參考標
準面技術，從而無需額外提供CGH模塊及補償鏡。
主要特點&優勢
測量環形，雙錐形，離軸拋物面，自由曲面以及其他的非旋轉對稱面；
不需要掃描、拼接和CGH模塊及補償鏡；
體積小，結構緊固且非球面測試精度高；
全自動或半自動工作臺；
測量非球面度優於1.5mm；
新手教學
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