WSM邁克爾遜幹涉儀主要用於高等院校物理實驗中觀察光的幹涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋）、測定單色光波長、測定光源或濾光片相幹長度、配法佈裡—珀羅系統觀察多光束幹涉現象。附加適當裝置，還可以擴大實驗范圍（如測薄片厚度和折射率，空氣折射率等）。因此，它是一種用途很廣的驗證有關基礎理論的教學實驗儀器。

WSM-100

移動鏡行程：100mm

微動手輪分度值：0.0001mm

波長測量精度：當條紋計數為100時，測定單色光波長的相對 誤差＜2％

導軌直線性誤差：小於±16″

分光板，補償板平面度：λ / 30

移動鏡，固定鏡平面度：λ / 20

精密二維調整架螺距：0.25mm

精密光學調整架（進口美鋁，調整螺紋為150牙，副螺紋距0.15mm-0.25mm，硬質陽極氧化）

WSM-200

移動鏡行程：200mm
微動手輪分度值：0.0001mm
波長測量精度：當條紋計數為100時，測定單色光波長的相對 誤差＜2％
導軌直線性誤差：小於±24″
分光板，補償板平面度：λ/ 30
移動鏡，固定鏡平面度：λ/ 20
精密二維調整架螺距：0.25mm

精密光學調整架（進口美鋁，調整螺紋為150牙，副螺紋距0.15mm-0.25mm，硬質陽極氧化）

此產品價格為：5300元

新手教學

批發市場僅提供代購諮詢服務，商品內容為廠商自行維護，若有發現不實、不合適或不正確內容，再請告知我們，查實即會請廠商修改或立即下架，謝謝。