名稱： HP8753D 說明 ★射頻網絡分析儀HP8753D頻率範圍30kHz~3GHZ -6GHz ★射頻網絡分析儀HP8753D集成化S參數測試裝置 ★射頻網絡分析儀HP8753D集成化1Hz分辨率合成信號源 ★射頻網絡分析儀HP8753D可選用時域測量和掃瞄諧波測量 ★射頻網絡分析儀HP8753D達110dB的動態範圍 ★射頻網絡分析儀HP8753D可測量群延遲和與線性相位的偏離 ★射頻網絡分析儀HP8753D對內置磁盤驅動器的存儲/調用 ★射頻網絡分析儀HP8753D提高內置精度 HP 8753D射頻網絡分析儀 HP 8753D 射頻網絡分析儀以低廉的價格為實驗室和生產測試提供了優越的RF網絡測量設備。它具有集成化的S參數測試裝置，延長了校準間隔期、提高了可靠性並改善了抗靜電放電能力。HP 8753D以比以往其它型號的測試設備更低的價格為分析30kHz~6GHz的有源或無源網絡、器件與元件特性提供了完整的解決途徑。網絡分析儀有2個獨立的顯示通道，供同時顯示反射和傳輸、幅度和相位或供時域和掃頻測量。便於使用的預編程按鍵使你能迅速訪問各個測量功能，你可以在高分辨率彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式觀察測量結果。 最佳的通用性和性能 集成化的合成信號源提供達10mW的輸出功率(選件011為100mW)、1Hz頻率分辨率和線性、對數、列表和連續波掃瞄類型。三個調諧接收機允許在6GHz上(利用選件006頻率擴展)，在105dB的寬動態範圍或在3GHz上在100dB的寬動態範圍內(標準情況)進行獨立功率測量或同時進行的比值測量。集成化測試裝置允許在不使用倍頻器的情況下，對工作到6GHz的器件進行傳輸和反射特性測量。 為了在非同軸系統中進行方便而精確的測量，特增加了TRL*/LRM*1校準。高穩定度的頻率基準(選件1D5)提高了對高Q器件，如表面波(SAW)諧振腔或介質諧振濾波器的頻率測量精度。 提高效率 測試時序功能允許一次來迅速、反覆執行複雜的任務。在時序工作方式下，只需從面板測量一次，分析儀便能儲存鍵入，以致無需額外編程，還可以利用測試時序經並行端口對外部裝置進行控制。另一些提高效率的措施包括支持LIF和DOS格式的內置磁盤驅動器、更快的CPU時鐘速率、512kB非易失存儲器、串行和並行接口，DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時間記錄的實時時鐘。還包括極限測試、任意頻率測試和標記跟蹤功能。分段校準和內插誤差修正能提高分析儀已校頻率範圍的某一區段上的矢量精度。 非線性器件的測試 為了表徵非線性器件的特性，選件002增加了諧波測量功能。可以直接或以dBc 顯示放大器的掃瞄、二次和三次諧波電平。按動一個按鈕，即可測量達-40dBc的諧波。功率計校準向對絕對輸入或輸出電平敏感的器件提供穩幅的絕對功率。HP8753D自動對HP436A、437B或438A功率計進行控制，使在測試系統中任何處的功率都調到具有功率計的精度。分析儀還完成混頻器統調和變頻損耗測量。還能進行固定IF和掃瞄IF測量。 時域分析 利用選件010，能觀察在時域中的響應。該分析儀對頻域數據的快速傅氏逆變換(FFT)進行計算，以顯示反射係數或傳輸係數隨時間變化的關係。兩種時域分析方式能觀察器件的階躍響應或衝擊響應或除去一些不希望的響應，如利用選通來除去接頭失配。 1 TRL*和LRM*是直通-反射-傳輸線和傳輸線-反射-匹配校準技術的三取樣器執行方式。 技術指標摘要測試裝置 集成化S參數測試裝置以50Ω(標準)或75Ω(選件075)提供完滿的正向和反向測量。外部測試裝置由選件011提供。測試端口輸出頻率特性範圍： 30kHz~3GHz(標準)；3 0kHz~6GHz（選件006）分辨率：1Hz 精度：±10ppm(在25℃±5℃時) 輸出特性功率範圍：-85~10dBm 分辨率：0.05dB 電平精度：±1.0dB(相對於0dBm輸出電平) 電平線性：(-15~+5dBm)±0.2dBm(典型值)30kHz~300kHz；（+5 ~ +10dBm）±0.5dBm(典型值) 30kHz ~ 300kHz 阻抗：50Ω 二次諧波：在+10dBm處<-25dBc(16MHz ~ 3GHz) 三次諧波：在+10dBm處<-25dBc(16MHz ~ 2GHz) 非諧波寄生信號(典型值) 與混頻器有關的非諧波寄生信號：在+10dBm處<-30dBc 測試端口輸入特性頻率範圍： 30kHz~3GHz(標準)； 30kHz~6GHz(選件006) 平

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