商品代碼:4117365

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    顯卡測試治具
    商品代碼: 4117365
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    商品詳細說明

    產品特點及性能參數:
    ※ 采用手動翻蓋式結構,操作方便;
    ※ 上蓋的IC壓板采用旋壓式結構,下壓平穩,保證IC的壓力均勻,不移位;
    ※ 探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層,接觸可靠,而不會損壞錫球;
    ※ 高精度的定位槽或導向孔,保證IC定位精確,生產效率高;
    ※ 采用浮板結構,對於BGA IC 有球無球都能測,
    ※ 探針材料:鈹銅(標準),
    ※ 探針可更換,維修方便,成本低。
    ※ 絕緣材料:Torlon、PEI、PEEK,限位框鋁合金材料製作;
    ※ 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引腳中心到中心的距離);
    ※ 交貨快:

    產品服務:

    ※ 半年免費保修(人為損壞除外)。
    ※ 保修期外,免費維修,如果需換件,隻收材料成本費。
    ※ 可以免費提供相關的技術支持





    新手教學
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