供應美國X-Rite測色計_分光儀_光學儀器_儀器、儀表_貨源

SP60/62/64分光測色儀

儀器介紹

美國X-Rite（愛色麗）成立於1958年，現為全球最大專業色彩測量儀器生產商，生產出世界第一部便攜式色彩測量儀,主要有兩大類產品：(1)表面顏色測量；(2)光學和照相密度測量。連續多年全美銷量第一，實力雄厚，是專業色彩測量儀器生產商中唯一Nasdaq上市企業。產品推陳出新，專利積分球技術，五角度分光光度計，全球率先推出原裝全中文操作色彩測量儀及配色軟件。

儀器特點

大屏幕，全中文操作界面，為快速測量顏色數據而設計，用於塗料、油墨、塑料、紡織、印刷等行業實驗室和生產車間

SP60 便攜式球形分光光度儀

SP60 便攜式球形分光光度儀是一部較經濟的分光光度儀(分光測色計)，通用、迅速和準確的顏色測量可在各種比色系統中，包括 CIE Xyz、CIE Yxy、 CIE LAB、 Hunter LAB、 CIE LCH、 CMC 和 CIE 94 等系統中進行絕對和差值測量。也可測量每 ASTM E313-98、 Metamerism 指數和 DIN 6172 中的白色和黃色值。

SP62 便攜式球形分光光度儀

SP62 便攜式球形分光光度儀是一部多功能的分光光度儀(分光測色計)，具有 SP60 系列的全部性能，並擁有內置的“PROJECTS”軟件（下載和手冊）。SP62 可與 X-RiteColor Master 和 X-RiteColor Master 網絡版軟件進行通訊。

SP64 便攜式球形分光光度儀

SP64 便攜式球形分光光度儀是一部最先進的分光光度儀(分光測色計)，具有 SP62 的全部性能，並擁有內置的“JOBS”功能和非凡的儀器間兼容性。SP64 含有可轉換孔，使用戶可以迅速將測量轉換至 4mm 或 8mm。

技術參數

SP60	測量光學系統	d/8°(漫射照明/8°角測量);DRS光譜感應器;固定測量孔徑:8mm測量/12mm照明
	儀器臺間差	CIE Lab:0.4△Eab以內,測量12塊BCRAⅡ系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.60△Eab測量任何色板(包含鏡面反射) CMC相等值:0.3△ECMC以內,測量12塊BCRA系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.5△E*CMC測量任何色板(包含鏡面反射)
	短期重復性	0.10△E*ab，測量白色標準板(標準誤差數)
SP62	測量光學系統	d/8°(漫射照明/8°角測量);DRS光譜感應器; 可選擇的測量孔徑:4mm測量/6.5mm照明;8mm測量/13mm照明;14mm測量/20mm照明
	儀器臺間差	CIE Lab:0.20△Eab以內,測量12塊BCRAⅡ系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.40△Eab測量任何色板(包含鏡面反射) CMC相等值:0.15△ECMC以內,測量12塊BCRA系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.3△E*CMC測量任何色板(包含鏡面反射)
	短期重復性	0.05△E*ab，測量白色標準板(標準誤差數)
SP64	測量光學系統	d/8°(漫射照明/8°角測量);DRS光譜感應器;可選擇的測量孔徑:4mm測量/6.5mm照明; 8mm測量/13mm照明（4mm和8mm 測量目標窗內置可轉）;14mm測量/20mm照明
	儀器臺間差	CIE Lab:0.20△Eab以內,測量12塊BCRAⅡ系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.40△Eab測量任何色板(包含鏡面反射) CMC相等值:0.15△ECMC以內,測量12塊BCRA系列色板平均值(包含鏡面反射) 最大0.3△E*CMC測量任何色板(包含鏡面反射)
	短期重復性	0.05△E*ab，測量白色標準板(標準誤差數)

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